Оглавление:
Кристаллографические направления и плоскости
- Кристаллическое направление и поверхность Регулярное расположение атомов в кристаллической решетке позволяет четко различать отдельные кристаллические направления и плоскости. K R I t a l o g R A f I H s K I N a p R a V l e I i m i-это луч, который является прямой линией или исходит из некоторой опорной точки, вершины атомного Куба, вдоль которой может функционировать точка счета, академическое направление-это, например, 1.2,
a). Могут быть и другие области, представляющие интерес для исследователя. Например, плоскость куба или его диагональная Плоскость-Плоскость, в которой находится атом. 1.2, Б, В, Г). 8 направление и плоскость Кристалла обычно обозначаются индексом зеркала.
Чтобы определить индекс в любом направлении, представим координаты, наиболее близкие к опорной точке атома в этом направлении, параметром решетки. Людмила Фирмаль
Например, ближайшая координата атома вдоль оси o равна 100. Эти цифры используются для указания направления θ-палубы вдоль фигуры. 1.2 приведены основные ккрилаллографические направления оси и направления плоскости (b, C, d) с экраном (θ), параллельным ей: [100]. Индексы направления вдоль осей OU и OZ и их параллельные направления представлены соответственно[010]и [001], а также направление вдоль диагоналей граней xoz, HOU, yoz и Куба.[101], [110], [011] и[111] (см. 1.2, а).
Для определения индекса кристаллической плоскости сначала находят координаты ближайшей точки пересечения с координатными осями, взятыми из опорной точки O. Например, координаты пересечения с координатными осями ближайшей интересующей плоскости параллельны плоскости Хоу
- (т. е. является плоскостью верхней поверхности куба, фиг. 1.2, б) — это числа 00, 00, 1. Итак, индекс этой плоскости можно записать следующим образом: (001). Индексы плоскости, параллельной плоскостям XOZ и yoz, равны(010) и(100) (рис. 1.2, б). Показатель степени вертикальной диагональной плоскости Куба
представлен(Po), показатель степени наклонной плоскости, пересекающей все три координатных оси на расстоянии одного параметра, принимает вид (111). 1.2, б, д).
Использование кристаллографических направлений и плоскостей и понятие их индексов связано с различными явлениями, происходящими Людмила Фирмаль
в кристаллическом теле, а также свойствами кристаллитов вдоль различных направлений и плоскостей.
Смотрите также:
Методические указания по материаловедению
Анизотропия в кристаллах | Полимеры, пластмассы |
Аллотропия металлов | Основные типы кристаллических решеток |